ИОНХ РАН открывает набор на курс дополнительного профессионального образования по программе повышения квалификации «Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов» с 12 февраля по 16 февраля 2024 г.
Курс «Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов» направлен на ознакомление с основами метода растровой (сканирующей) электронной микроскопии, а также сопряженных методов анализа (рентгеноспектральный микроанализ и дифракция отраженных электронов), формирование представления об устройстве электронных микроскопов и современных инструментальных возможностях методов при исследовании различных материалов. В рамках курса будут рассмотрены физические основы электронной микроскопии, изучены реальные случаи применения электронной микроскопии при исследовании микроморфологии, структуры и состава объектов. Курс будет полезен научным сотрудникам и начинающим операторам, позволит грамотно спланировать проведение экспериментов на растровом электронном микроскопе, а также поможет в достоверной интерпретации полученных результатов.
Продолжительность курса — 5 дней (очно).
Количество мест в группе ограничено — не более 10 человек.
Обучение будет проходить с 12 февраля по 16 февраля 2024 г.
Место проведения – г. Москва, Ленинский проспект, 31, ИОНХ РАН, ауд. 725
Стоимость участия – 29 000 рублей с человека
Заявки на обучение в свободной форме можно направлять по e-mail: edu@igic.ras.ru
Курсы ИОНХ РАН 2024
