Загрузка просмотра.
Весь день
Неопределенность и метрологическая прослеживаемость результатов измерений
ААЦ Аналитика Москва12 — 14 февраля 2024
32000р. – 37000р.
Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов
ИОНХ РАН Ленинский проспект, 31, Москва2 февраля – 16 февраля 2024 г.
29000р.