Name: Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов
Start: 2025-02-03T00:00:00+03:00
End: 2025-02-07T23:59:59+03:00
Location: ИОНХ РАН

14 ноября, 2024 - 15 ноября, 2024

Оценка однородности, стабильности и характеризация при производстве стандартных образцов и образцов для контроля. Требования стандарта ISO Guide 35:2017.

ААЦ Аналитика Москва

21000р. – 25000р.