Российская конференция«Рентгеновские методы исследования веществ и материалов»

С 20 по 24 апреля 2026 года в Москве состоится конференция «Рентгеновские методы исследования веществ и материалов».

Организаторы конференции:

— Министерство образования и науки РФ;

— Отделение химии и наук о материалах Российской академии наук;

— Научный совет по неорганической химии Российской академии наук;

— Институт общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова Российской академии наук (ИОНХ РАН).

Секции конференции:

Секция 1. Дифракция рентгеновского излучения:

1.1. Монокристальная дифракция;

1.2. Порошковая дифракция.

Секция 2. Рентгеновская рефлектометрия и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей.

Секция 3. Рентгеновская эмиссионная спектрометрия:

3.1. Рентгенофлуоресцентный анализ;

3.2. Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ.

Секция 4. Применение синхротронного излучения. Рентгеновская спектрометрия поглощения (XANES и EXAFS).

Секция 5. Рентгенофотоэлектронная спектрометрия.

Секция 6. Рентгеновская томография.

Пленарные заседания, заседания секций и постерная сессия будут проходить в ИОНХ РАН (г. Москва, Ленинский проспект, д.31).